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<デュアルタイプ膜厚計LZ-330J【ケット科学研究所】の概要>
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デュアルタイプ膜厚計LZ330Jは磁性金属上に施された被膜厚もしくは、非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定うることができるデュアルタイプ膜厚計です
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小型軽量のボディにリミット設定機能、統計処理、プリンタ対応などの多機能をハイブリット化、しかもキャリブレーション・メモリの採用で、測定ごとの調整からも解放されます
レンタル対応地域 日本全国
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※中古販売・リースは原則取り扱っておりません。
<デュアルタイプ膜厚計LZ-330J【ケット科学研究所】の仕様>
メーカー
ケット科学研究所
測定方式
電磁誘導式/渦電流式兼用
測定対象
磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲
電磁誘導式:0~1500μmまたは60.00mils
渦電流式:0~800μmまたは32.00mils
測定精度
50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
分解能
100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規格
JIS 5600準拠
データメモリ数
3142点
統計機能
測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値
プローブ
一点接触定圧式(LEP-J、LHP-J)
表示方法
デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm)
外部出力
RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電 源
電池1.5V(単3アルカリ)×4
寸法・質量
75(W)×145(D)×31(H)mm、0.5kg
Copyright2007
Major corporation all rights reserved
株式会社メジャー
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06-6398-7522
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